在數字信息技術和網絡技術高速發展的今天，嵌入式系統已經廣泛地滲透到人們的日常生活等方方面面中。而在嵌入式系統開發流程中調試是一個相當重要的環節．調試器是衡量一個系統開發環境優劣的重要因素。嵌入式系統的特點決定了發過程中交叉調試的必然性。 本論文的主要工作是對當前兩種主流的交叉調試技術即目標監控程序調試技術和片上調試技術進行研究與實現，之后對目前在嵌入式系統開發中常用的硬件調試方法ICE、BDM、JTAG的實現原理、系統結構作了詳細的分析。在目標監控程序調試技術方面，根據Windows CE目標監控程序調試技術的總體框架對幾個主要組成部分的具體實現進行詳細地闡述。在片上調試技術方面，根據JTAG 片上調試技術的總體框架對各個組成部分進行具體實現。