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SiC MOSFET的實時結溫監控電路測量方案

來源: 維庫電子網
2021-12-20
類別:安防監控
eye 21
文章創建人 拍明

原標題:SiC MOSFET的實時結溫監控電路測量方案

SiC MOSFET的實時結溫監控電路測量方案

引言

碳化硅(SiC)作為第三代半導體材料,以其優異的耐高壓、耐高溫和低損耗等特性,正在逐步替代傳統的硅基材料,特別是在電力電子設備中的應用。SiC MOSFET作為SiC功率器件的一種,具有高頻率、高效率、高耐壓和高可靠性等優點,在新能源汽車、光伏發電、軌道交通和智能電網等領域具有顯著優勢。然而,SiC MOSFET在工作過程中,由于高溫和高功率密度的影響,結溫的實時監控顯得尤為重要。本文將詳細介紹SiC MOSFET的實時結溫監控電路測量方案,包括主控芯片型號、設計中的作用及具體型號。

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SiC MOSFET的基本原理

SiC MOSFET是一種基于碳化硅半導體材料的場效應晶體管,其工作原理類似于傳統的金屬氧化物半導體場效應晶體管(MOSFET)。SiC MOSFET由柵極(Gate)、源極(Source)、漏極(Drain)和通道(Channel)組成。當柵極施加正電壓時,柵極與通道之間形成電場,控制通道的導電性,從而調節源極和漏極之間的電流流動。

SiC MOSFET具有高工作頻率、低內阻、高耐壓和耐高溫等特點。其工作頻率可達1MHz甚至更高,遠高于傳統MOSFET的60kHz左右,這有助于減小電源系統中的電容、電感或變壓器的體積,降低電源成本,實現電源的小型化和美觀化。同時,SiC MOSFET的單管最小內阻可以達到幾個毫歐,遠低于傳統MOSFET的16毫歐,能夠輕松達到能效要求,減少散熱片使用,降低電源體積和重量,提高電源的可靠性和穩定性。

實時結溫監控的重要性

SiC MOSFET在工作過程中,由于高溫和高功率密度的影響,結溫的實時監控對于保障器件的可靠性和穩定性至關重要。高溫會導致SiC MOSFET的閾值電壓降低,從而影響其開關性能和導通損耗。此外,高溫還會加速器件的老化過程,縮短使用壽命。因此,通過實時監控SiC MOSFET的結溫,可以及時發現異常情況,采取相應的保護措施,防止器件損壞,提高系統的可靠性和穩定性。

實時結溫監控電路測量方案

實時結溫監控電路測量方案主要包括傳感器選擇、信號調理電路設計和主控芯片選擇三部分。

1. 傳感器選擇

SiC MOSFET的結溫監控通常通過測量其閾值電壓(Vth)的變化來實現。閾值電壓與結溫之間存在良好的線性關系,因此可以通過測量閾值電壓來間接獲取結溫信息。為了實現這一點,需要選擇合適的傳感器來提取閾值電壓。

一種常用的方法是使用RC緩沖電路和信號調理電路來提取SiC MOSFET的閾值電壓。RC緩沖電路用于連接待測功率器件的漏極和源極,捕獲開通時漏-源電壓的變化起始時刻,并輸出一個電壓信號。信號調理電路則對來自RC緩沖電路的電壓信號進行運算處理,并與來自待測功率器件的PWM信號進行邏輯比較,從而轉換出表征待測功率器件結溫所需的溫度敏感電參數。

2. 信號調理電路設計

信號調理電路的設計是實時結溫監控電路測量方案中的關鍵部分。信號調理電路的主要功能是對來自傳感器的電壓信號進行運算處理,以提取出表征結溫的溫度敏感電參數。

信號調理電路通常包括峰值檢測單元、邏輯變換單元和運算放大器等部分。峰值檢測單元用于在開通過程中保持電壓信號的負峰值,并將其保持在保持電容的兩側。邏輯變換單元則用于將來自峰值檢測單元的電壓信號與來自待測功率器件的PWM信號進行邏輯比較,從而轉換出表征結溫的溫度敏感電參數。運算放大器則用于對電壓信號進行放大或反向放大,以滿足后續處理的要求。

3. 主控芯片選擇

主控芯片是實時結溫監控電路測量方案中的核心部分,負責接收和處理來自信號調理電路的溫度敏感電參數,并根據需要進行相應的控制和保護。在選擇主控芯片時,需要考慮其性能、功耗、接口和可編程性等因素。

一種常用的主控芯片是TMS320F28335,這是一款由德州儀器(TI)推出的高性能數字信號處理器(DSP)。TMS320F28335具有高速的運算能力和豐富的外設接口,能夠實現對SiC MOSFET結溫的實時監控和處理。它采用先進的C28x DSP內核,具有高達150MHz的時鐘頻率和強大的浮點運算能力,能夠滿足實時性要求較高的應用需求。此外,TMS320F28335還提供了多種通信接口,如SPI、SCI、I2C和CAN等,方便與其他外設進行通信和數據交換。

除了TMS320F28335之外,還有其他一些主控芯片也可以用于SiC MOSFET的實時結溫監控。例如,STM32系列微控制器、PIC系列單片機和FPGA等。這些芯片都具有不同的性能和特點,可以根據具體的應用需求進行選擇。

主控芯片型號及其在設計中的作用

1. TMS320F28335

TMS320F28335是德州儀器(TI)推出的一款高性能數字信號處理器(DSP),在SiC MOSFET實時結溫監控電路測量方案中扮演著重要角色。

作用

  • 高速運算能力:TMS320F28335具有高達150MHz的時鐘頻率和強大的浮點運算能力,能夠快速處理來自信號調理電路的溫度敏感電參數,實現對SiC MOSFET結溫的實時監控。

  • 豐富的外設接口:TMS320F28335提供了多種通信接口,如SPI、SCI、I2C和CAN等,方便與其他外設進行通信和數據交換。這些接口可以用于連接傳感器、執行器和顯示器等設備,實現對SiC MOSFET的全方位監控和控制。

  • 可編程性強:TMS320F28335采用先進的C28x DSP內核,具有豐富的指令集和可編程性。用戶可以根據具體的應用需求,編寫相應的程序,實現對SiC MOSFET結溫的實時監控、報警和保護等功能。

具體型號:TMS320F28335PGFA

2. STM32系列微控制器

STM32系列微控制器是意法半導體(STMicroelectronics)推出的一款高性能微控制器,也可以用于SiC MOSFET實時結溫監控電路測量方案。

作用

  • 高性能:STM32系列微控制器具有高性能的CPU和豐富的外設資源,能夠滿足實時性要求較高的應用需求。它們通常具有高達幾百MHz的時鐘頻率和強大的運算能力,能夠快速處理來自信號調理電路的溫度敏感電參數。

  • 低功耗:STM32系列微控制器采用先進的低功耗設計,能夠在保證性能的同時降低功耗。這對于需要長時間運行的SiC MOSFET實時結溫監控系統來說尤為重要。

  • 易于開發:STM32系列微控制器具有豐富的開發資源和工具,如STM32CubeMX、STM32 HAL庫和Keil MDK等。這些工具和庫可以大大簡化開發過程,提高開發效率。

具體型號:STM32F407VG

3. PIC系列單片機

PIC系列單片機是微芯科技(Microchip Technology)推出的一款高性能單片機,同樣可以用于SiC MOSFET實時結溫監控電路測量方案。

作用

  • 高性能:PIC系列單片機具有高性能的CPU和豐富的外設資源,能夠滿足實時性要求較高的應用需求。它們通常具有高達幾十MHz的時鐘頻率和強大的運算能力,能夠快速處理來自信號調理電路的溫度敏感電參數。

  • 低功耗:PIC系列單片機也采用低功耗設計,能夠在保證性能的同時降低功耗。這對于需要長時間運行的SiC MOSFET實時結溫監控系統來說同樣重要。

  • 豐富的外設:PIC系列單片機提供了多種外設接口,如UART、SPI、I2C和ADC等,方便與其他外設進行通信和數據交換。這些接口可以用于連接傳感器、執行器和顯示器等設備,實現對SiC MOSFET的全方位監控和控制。

具體型號:PIC24FJ256GB110

4. FPGA

FPGA(現場可編程門陣列)是一種可編程邏輯器件,也可以用于SiC MOSFET實時結溫監控電路測量方案。

作用

  • 高度靈活:FPGA具有高度的靈活性,可以根據具體的應用需求進行編程和配置。用戶可以根據SiC MOSFET實時結溫監控系統的要求,設計相應的邏輯電路和算法,實現對SiC MOSFET結溫的實時監控和處理。

  • 并行處理能力:FPGA具有強大的并行處理能力,能夠同時處理多個任務和數據流。這對于需要同時監控多個SiC MOSFET器件的實時結溫監控系統來說尤為重要。

  • 可擴展性強:FPGA具有豐富的I/O資源和可編程邏輯單元,可以根據需要進行擴展和升級。這為用戶提供了更多的選擇和靈活性,可以滿足不同規模和復雜度的SiC MOSFET實時結溫監控系統的需求。

具體型號:Xilinx XC7A100TCPG236-1

結論

SiC MOSFET的實時結溫監控電路測量方案是實現其高效、可靠運行的重要手段。本文詳細介紹了實時結溫監控電路測量方案的設計思路和方法,包括傳感器選擇、信號調理電路設計和主控芯片選擇等部分。同時,還介紹了主控芯片型號及其在設計中的作用,包括TMS320F28335、STM32系列微控制器、PIC系列單片機和FPGA等。這些方案和芯片可以根據具體的應用需求進行選擇和優化,以實現SiC MOSFET的實時結溫監控和保護。

通過實時監控SiC MOSFET的結溫,可以及時發現異常情況,采取相應的保護措施,防止器件損壞,提高系統的可靠性和穩定性。這對于保障電力電子設備的正常運行和延長使用壽命具有重要意義。未來,

責任編輯:David

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標簽: 監控電路測量

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